產品介紹

千兆以太網面陣工業相機，它采用高性能的感光芯片，通過GigE數據接口進行圖像數據的傳輸，可以和任何滿足GigE Vision和GenICam標準的應用開發工具兼容，最大1Gb/s的傳輸速率可以滿足大多數工業應用中的對傳輸速率的要求，能穩定工作在各種惡劣的環境中，是一款高可靠性、高性價比的面陣工業相機。

產品特點

安裝簡單，操作方便，支持：

? 千兆以太網接口最大傳輸距離可到100m。

? 128MB板載緩存用于突發模式下數據傳輸或圖像重傳。

? 支持軟件觸發/硬件觸發/軟硬混合觸發/自由運行等多種模式。

? 支持銳度，降噪，伽馬校正，查找表，黑電平校正，亮度，對比度等ISP功能。

? 彩色相機支持插值，白平衡，顏色轉換矩陣，色度，飽和度等。

? 支持多種圖像數據格式輸出，ROI，Bining，鏡像等。

? 符合GigE VisionV2.0協議和GeniCam標準。

? 支持PoE供電，DC12V供電。

? 符合CE,FCC,UL,RoHS認證。

產品規格

光譜曲線

SY-GEM030M-300-G-H 

SY-GEM120C-30-G-H

SY-GEM130M-90-G-H 

SY-GEM500M-23-G-H

SY-GEM600M-17-R-H 

SY-GEM1000M-11-R-H

SY-GEM1200M-9-R-H

SY-GEM2000M-6-R-H

產品尺寸

產品應用

對位貼合

在貼合工藝生產過程中，對對位精度有著嚴格的要求，精度不夠很容易會導致貼合失敗，從而使物料報廢。

雙翌CH系列工業面陣相機，能夠憑借出色的成像質量輕松捕捉被檢測物的特征點，能夠在對位貼合領域大顯身手。

半導體AOI高速檢測

半導體集成電路檢測根據工藝可以分為前道檢測和后道檢測，涉及到薄膜檢測、缺陷檢測等，十分繁雜。

雙翌CH系列部分工業面陣相機曝光時間范圍覆蓋1us-10s，超短曝光模式適用于高速飛拍檢測，能夠輕易地應對半導體高速檢測中的各類檢測環節。